针对芯片及半导体器件，模拟静电放电（ESD）环境，检测其抗静电干扰能力，包括人体放电模式（HBM）、机器放电模式（MM）下的耐受电压与性能稳定性。采用静电放电发生器等设备，依据 JEDEC 标准，评估芯片在生产、运输、使用中抵御静电损伤的能力，避免静电导致芯片失效。
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